La microscopía electrónica de transmisión de nanopartículas (TEM) es una importante técnica de microscopía ampliamente utilizada para observar y caracterizar la estructura y morfología de partículas y materiales a nanoescala.
TEM utiliza haces de electrones de alta energía para observar los detalles microscópicos de la muestra a través de cortes finos. En TEM, el haz de electrones se enfoca a través de un sistema de lentes y luego pasa a través de la muestra, interactuando con los átomos o moléculas de la muestra. Al recopilar información sobre el haz de electrones transmitido, se pueden obtener imágenes de alta resolución y patrones de difracción de la muestra, revelando así su estructura y composición interna.
Los siguientes son los pasos generales para usar TEM para probar muestras:
1. Preparación de la muestra: En primer lugar, es necesario preparar la muestra que se va a analizar en rodajas de muestra suficientemente finas. Los métodos de preparación comunes incluyen corte mecánico, molienda de iones, deposición centrífuga y corte con haz de iones enfocados (FIB).
2. Carga de muestras: Coloque las rodajas de muestra preparadas en el soporte de muestras TEM y asegúrese de su fijación y estabilidad.
3. Configuración del instrumento: establezca parámetros como el voltaje de aceleración, el enfoque y las funciones de alineación requeridas para TEM. Normalmente, es necesario elegir los ajustes y modos de lente adecuados para obtener la información de imagen requerida.
4. Observación y ajuste: Inserte el portamuestras en el instrumento TEM y observe la muestra usando un ocular o microscopio. Con el aumento adecuado, observe si la morfología y la estructura de la muestra cumplen con los requisitos y ajuste y optimice según sea necesario.
5. Image capture: Select appropriate lens settings and exposure time to capture high-resolution images of the sample through the TEM system. Images from different regions and angles can be collected to obtain more comprehensive information.
6. Análisis de datos: Analice e interprete imágenes TEM, incluida la medición del tamaño de partículas, la morfología de la superficie, la estructura cristalina, etc. También se pueden realizar el análisis del espectro de energía correspondiente y el análisis del patrón de difracción para obtener información sobre la composición elemental y la estructura cristalina.
TEM es una técnica de microscopía de alta resolución comúnmente utilizada para estudiar nanopartículas, nanomateriales, nanoestructuras y más. Puede proporcionar observación y análisis detallados a nanoescala, desempeñando un papel importante en la comprensión de las propiedades estructurales de los materiales, la morfología y composición de las nanopartículas y el estudio de los fenómenos a nanoescala.
