Los instrumentos de detección comúnmente utilizados para analizar la composición denanomaterialesincluir:
1. ICP (plasma acoplado inductivamente): ICP es una tecnología ampliamente utilizada en los campos de la química analítica y la ciencia de materiales. Puede utilizarse para determinar el contenido y la composición de elementos en nanomateriales. Convirtiendo la muestra en iones gaseosos y utilizando el espectro de plasma generado para determinar la concentración de los elementos. ICP-MS (espectrómetro de masas de plasma acoplado inductivamente) combina técnicas de ICP y espectrometría de masas para analizar concentraciones extremadamente bajas de elementos en nanomateriales.
2. XRF (fluoroscopia de rayos X): XRF es una tecnología ampliamente utilizada para el análisis de materiales y pruebas no destructivas. Determina la composición de los elementos irradiando la superficie o el interior de la muestra con rayos X y midiendo la radiación fluorescente de las características de los elementos en la muestra. XRF es adecuado para una variedad de nanomateriales, incluidas muestras sólidas, líquidas y en polvo.
3. EDS (Espectroscopia de rayos X de dispersión de energía): EDS es una técnica de microscopía electrónica que determina la composición de elementos en una muestra midiendo los rayos X generados por la interacción entre el haz de electrones y la muestra en el material. EDS se utiliza a menudo junto con la microscopía electrónica de barrido (SEM) para proporcionar análisis de la composición de la superficie de nanomateriales.
