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La microscopía electrónica de transmisión de nanopartículas (TEM) es una importante técnica de microscopía ampliamente utilizada para observar y caracterizar la estructura y morfología de partículas y materiales a nanoescala.

La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una herramienta de investigación indispensable en campos como la ciencia de los materiales y la nanotecnología. Para los investigadores que son nuevos en TEM, comprender sus principios y operaciones básicas es crucial para la utilización eficiente de este equipo. Las pruebas de TEM se centran principalmente en las características de la microestructura de los materiales, incluida la distribución de elementos, la composición de fase, los defectos de cristal, etc. Estas características se manifiestan a nivel microscópico como el tamaño, la forma, la distribución de diferentes granos de fase, así como la densidad y distribución de defectos cristales. A través de TEM, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la estructura interna de los materiales, evaluando así sus propiedades y posibles aplicaciones.

La combinación de flexibilidad y elasticidad hace que los materiales elásticos sean esenciales en una amplia gama de industrias, incluidas la automoción, la construcción y los bienes de consumo. Además, son cada vez más atractivos en campos emergentes como los microfluidos, la robótica blanda, los dispositivos portátiles y los dispositivos médicos. Sin embargo, tener suficiente resistencia mecánica es un requisito previo para cualquier aplicación. Por lo tanto, resolver los atributos aparentemente contradictorios entre suavidad y fuerza siempre ha sido una búsqueda eterna.

Hay varias técnicas que se pueden utilizar para probar la pureza de un polvo. Un método común es el análisis de difracción de rayos X (XRD), que puede usarse para identificar y cuantificar las diferentes fases cristalinas en un polvo.

El desarrollo de nuevos materiales para aplicaciones mecánicas y estructurales ha ido en aumento en los últimos años. Los compuestos de matriz de aluminio (AMC) son una clase de materiales que se han estudiado ampliamente debido a su alta relación resistencia-peso y sus propiedades mecánicas mejoradas. Uno de los refuerzos más prometedores para los AMC son las partículas de carburo de silicio (SiC). En esta publicación de blog, exploraremos las aplicaciones de los AMC reforzados con SiC.

La microscopía electrónica de barrido se puede dividir en el tipo de emisión de electrones térmicos y el tipo de emisión de campo de acuerdo con las diferentes formas de generación de electrones. El filamento utilizado para el tipo de emisión de electrones térmicos es principalmente microscopía electrónica de filamento de tungsteno. Tipo de emisión de campo La distinción entre emisión de campo caliente y emisión de campo frío.